光無源器件主要種類：光纖、光連接器、光濾波器、CWDM/DWDM、光耦合器、分光器、隔離器、光開關、環形器、衰減器等等。
光無源器件種類多樣，可靠性測試主要技術指標有溫度相關損耗TDL跟溫度波長漂移TWD：
| 測試項目 | 測試相關儀表 | 選擇項 | 備注 |
溫度相關損耗 TDL(dB/℃) | 高低溫箱+ 插回損儀；光源+光功率計；光源+OSA | 用戶可自定義 | 高低溫可靠性測試 |
溫度波長漂移 TWD(nm/℃) | 高低溫箱+光源+OSA | 用戶可自定義 | 高低溫可靠性測試 |
基本測試線框圖（舉例示意）：
可靠性測試 示例說明
相關測試標準文件：-- EIA/TIA-455-3A/GR-1221/ GR-1209/ IEC 68-2-38
溫度循環測試（Temperature Cycling Test）
溫度: -40°C to 70°C (±2°C) for CO -- 溫度設置根據具體器件類型可調整
-40°C to 85°C (±2°C) for RT/UNC -- 溫度設置根據具體器件類型可調整
極端條件保持時間: ≥15 minutes – 保持時間根據具體器件類型可調整
循環次數: 100 pass/fail, 500 for information for CO；500 pass/fail, 1000 for information for RT/UNC
循環抗濕性測試（Cyclic Moisture Resistance Test）
溫度曲線: 參考如下溫度曲線 -- 溫度設置根據具體器件類型可調整
相對濕度: 85-95% at 75°C; uncontrolled at 25°C & -40°C
極端條件保持時間: 3 to 16 Hours – 保持時間根據具體器件類型可調整
循環次數: 5 complete cycles (each complete cycle has 5 sub-cycles)
使用光源、光功率計、高低溫箱，加上若干光開關，通過控制軟件，實現自動溫度控制、自動切換測試。在生產制造測試領域，模塊+平臺化的測量解決方案在儀表拓展性，數據報告保存，可編程性等方面具有很大優勢。
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