CWDM器件測試

方案描述

CWDM粗波分復用(Coarse Wavelength Division Multiplexing): 泛指工作在從1270nm到1610nm的范圍內,其信道間距為20nm,共18個波長CWDM無源器件。

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CWDM器件制造工藝流程


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方案描述

CWDM光無源器件生產領域中,昂貴的測試儀器占了測試成本的很大一部分,其中OSA,寬帶光源則是儀器中最為昂貴的部分,充分利用寬帶光源,OSA,多工位共享儀表資源是有效降低測量成本的主要方法。


CWDM反射調光


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CWDM透射調光


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CWDM高低溫測試,高溫老化測試,成品測試框圖:

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CWDM調光調試—PDL測量(可選)

偏振相關損耗PDL --光源、偏振控制器、OPM(必須對偏振不敏感,使用積分球)


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方案優勢

自動化測試系統采用計算機/服務器,分時共享模式, 通過USB或網線通信、軟件控制方式,把多臺計算機和儀器有機結合起來,實現多個工位控制共享單臺寬帶光源和OSA儀器,從而突破了傳統臺式儀器的局限性,達到了共享昂貴資源,降低測試成本的目的。

基本測試框圖如下(儀1X4 CWDM模塊為例):

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SLED寬帶光源作為測試光源

優點:光譜范圍寬,光譜功率密度高,測試效率高,成本適中,是目前理想的寬帶測試光源方案之一。

SLED寬帶光源可以覆蓋整個CWDM頻譜范圍( 組合輸出可覆蓋1270~1620 nm ),在這個范圍內光功率密度比LED光源約大3個數量級因此CWDM的隔離度指標可測到50dB以上

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