PLC器件測試

方案描述

PLC作為光無源網絡搭建的關鍵光器件,傳統的工廠依然采用熔接光纖、制作連接接頭、纏繞測試等方法測試相關性能,該方法生產效率低,測試環節繁瑣,已不能滿足目前對于PLC器件的市場需求。

Dimension為了解決傳統PLC生產方法帶來的弊端,開發了一套專門針對于PLC測試的測試系統。該系統采用光時域反射原理作為基礎,實現只通過光纖V型槽對接,就可以完成

PLC器件性能測試的問題,該方案可以大大提高測量的準確性以及廠家的生產效率。


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主要優勢

● 測試無需熔接或制作連接頭對接

● 插回損同時測量, 回損可雙向測量

● 軟件UI簡潔明了,用戶易使用,數據可實時記錄

● 光纖對接參數實時顯示,確保測試的準確性

● 可適用于16、32、64、128路PLC






應用

● PLC器件插回損性能測量

● 跳線、連接器性能檢測


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