Dimension為了解決傳統PLC生產方法帶來的弊端，開發了一套專門針對于PLC測試的測試系統。該系統采用光時域反射原理作為基礎，實現只通過光纖V型槽對接，就可以完成
PLC器件性能測試的問題，該方案可以大大提高測量的準確性以及廠家的生產效率。
● 測試無需熔接或制作連接頭對接
● 插回損同時測量, 回損可雙向測量
● 軟件UI簡潔明了，用戶易使用，數據可實時記錄
● 光纖對接參數實時顯示，確保測試的準確性
● 可適用于16、32、64、128路PLC
● PLC器件插回損性能測量
● 跳線、連接器性能檢測
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